科聯(lián)電子提供多路溫度測試儀、積分球、爐溫跟蹤儀、變頻電源等產(chǎn)品。
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2018-07-21 來源：科聯(lián)電子
在積分球漫反射樣品的測量中，有兩種常用的消除鏡面反射成分的方法：一種是使樣品的法線與照射光束的光軸重合，使鏡面反射成份沿入射光路的反向射出。入射光學(xué)系統(tǒng)表面的反射率應(yīng)盡可能低，以便更徹底地消除鏡面反射。另一種方法是使樣品的法線與照射光束的光軸成一定角度，或者樣品的法線與接收光束的光軸成一定角度。這個角度的大小一般為6度或8度。
同時，在樣品的鏡面反射方向上，在積分球上開孔。當鏡面反射成分被排除在測量之外時，放置光吸收阱。使積分球鏡面的反射成分被光阱吸收。為了更徹底地消除積分球鏡面反射成分，光吸收阱的孔徑應(yīng)大于鏡面反射光束的幾何光學(xué)尺寸。對于一個常見的樣本，光束的幾何光學(xué)尺寸四周可以大出2度。光吸收阱的尺寸由結(jié)構(gòu)決定。不一定需要使光學(xué)吸收阱用于確定樣品的暗讀數(shù)。如果機箱內(nèi)部的光密閉性較好 ,在某些條件下可以不用光吸收阱。讓鏡面反射光直接進入機箱就可以。
如果測量包含了鏡面反射成分，則需要將積分球開孔蓋上。當然，蓋板的涂層應(yīng)該與積分球的涂層一致。
